Makellos aus der Fabrik

Optik. Forscher der TU Wien entwickeln neue 3-D-Sensoren für die Fließbandproduktion.

Ein neues Smartphone darf keinen Kratzer am Display haben, der Lack eines neuen Autos soll keine schadhaften Stellen aufweisen, und bei einem Halbleiterchip muss jede Verbindung präzise sitzen. Damit die Produkte tatsächlich makellos die Fabrik verlassen, werden sie in vielen Industriezweigen, bereits während der Produktion, mit 3-D-Scannern überprüft.


Auf Nanometer genau messen

Am Institut für Automatisierungs- und Regelungstechnik der TU Wien wurde nun ein neues Christian-Doppler-(CD-)Labor eröffnet. Dort werden, gefördert vom Wissenschaftsministerium, zusammen mit Industriepartnern, Sensoren für diese 3-D-Scanner entwickelt. „Für die Halbleiterproduktion brauchen wir Scanner, die auf Nanometer genau messen“, sagt Georg Schitter, Leiter des CD-Labors.

Mit seinem Team will der Wissenschaftler nicht nur die Genauigkeit, sondern auch die Geschwindigkeit der Sensoren verbessern. „Zeit ist Geld. Und wenn die Scanner schneller arbeiten, kann auch schneller produziert werden“, sagt Schitter. Denn diese sollen schon während der Produktion Fehler erkennen, sodass nicht erst später nachgebessert werden muss.

Alle Industriebranchen sollen die Technik künftig einsetzen können. Je nach Produkt ist aber eine andere Genauigkeit nötig. So reicht etwa der Mikrometer-Bereich, um Autolack zu prüfen. Dafür müssen dort auch quadratmetergroße Flächen gescannt werden. „Wir entwickeln dazu verschiedene Sensoren. Unsere Software lässt sich aber für alle Größenordnungen einsetzen“, erklärt Schitter.

Die Industriepartner, die Messtechnikfirmen Atensor aus Oberösterreich und Mikro-Epsilon aus Bayern, werden die neuen Erkenntnisse laufend umsetzen. Die an der TU entwickelten Sensoren werden also schon bald in der Praxis genutzt. (pe)

("Die Presse", Print-Ausgabe, 30.01.2016)

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